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DS3171, DS3172, DS3173, DS3174
단일/듀얼/트리플/쿼드 DS3/E3 단일 칩 트랜시버
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데이터 시트
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전체 데이터 시트
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애플리케이션 노트
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| 애플리케이션 노트 3410: Guidelines for Laying Out T3 and E3 Network Interfaces - DS3171, DS3172, DS3173, DS3174 | | 애플리케이션 노트 3547: T3/E3/STS-1 LIU에 대한 반사 손실 측정하기 - DS3171, DS3172, DS3173, DS3174 | | 애플리케이션 노트 3609: DS325X, DS316X, DS317X, DS318X의 클록 레이트 어댑터 (CLAD) 기능 - DS3171, DS3172, DS3173, DS3174 | | 애플리케이션 노트 3670: Advantest의 R3132 스펙트럼 분석기를 이용한 리턴 손실 측정 - DS3171, DS3172, DS3173, DS3174 | | 애플리케이션 노트 3763: DS317x 및 DS318x T3/E3/STS-1 LIU에서 리턴 손실의 측정과 향상 - DS3171, DS3172, DS3173, DS3174 |
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2006-12-14
이 페이지는 최근에 변경됨: 2007-07-27
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