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애플리케이션 노트

애플리케이션 노트 351: T1/E1 and T3/E3 Transformer Selection Guide - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 397: Pulse Template Measurement - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 398: T3/E3/STS-1 LIU Secondary Surge Protection Design - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 404: Modifying the E3 Template Compliance of the DS3150, DS315x and DS325x - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 1797: Measuring Telecom Systems Against a Pulse Mask Template - DS3154 애플리케이션 노트 2696: Redundancy Protection for T3/E3/STS-1 Networks - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 2877: 테스트 레지스터를 사용하여 DS315x의 펄스 파형 수정 - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 2931: HFTA-09.0: T3/E3/STS-1 Fiber Optic Extension - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3111: DS3144 프레이머와 DS3154 LIU의 인터페이싱 - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3131: Connecting the Agere Ultramapper Device Family to Dallas T3/E3 LIUs - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3263: Connecting the Agere Supermapper™ Device Family to Dallas T3 LIUs - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3410: Guidelines for Laying Out T3 and E3 Network Interfaces - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3547: T3/E3/STS-1 LIU에 대한 반사 손실 측정하기 - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3556: 마이크로컨트롤러 없이 Dallas Semiconductor LIU 구성하기 - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154 애플리케이션 노트 3670: Advantest의 R3132 스펙트럼 분석기를 이용한 리턴 손실 측정 - DS3151, DS3152, DS3153, DS3154

EV 킷

DS3154DK DS3153DK

디자인 가이드

Communications (PDF)

신뢰성 보고서

신뢰성 보고서: DS3151.pdf DS3152.pdf DS3153.pdf DS3154.pdf

소프트웨어/모델

드라이버 코드 요청 DS3151 IBIS 모델 DS3151 B BSDL 모델 DS3151 A BSDL 모델 DS3151 B1 BSDL 모델 DS3152 A BSDL 모델 DS3152 B BSDL 모델 DS3152 B1 BSDL 모델 DS3152 IBIS 모델 DS3153 B1 BSDL 모델 DS3153 A BSDL 모델 DS3153 B BSDL 모델 DS3153 IBIS 모델 DS3154 IBIS 모델 DS3154 A BSDL 모델 DS3154 Cadence Allegro Symbol DS3154 Cadence Concept Symbol DS3154 B BSDL 모델 DS3154 Logical Symbol-XML Format DS3154 B1 BSDL 모델

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