신뢰성 모니터 프로그램 (Q4 2007)

제품별 공정 신뢰성 보고서 목차 참조 (PDF, 507kB) 스트레스 테스트 프리컨디셔닝 동작 수명 저장 수명 온도 사이클 온도/습도 바이어스 (THB) 쓰기 사이클/데이터 유지 패키지 무결성 공정 신뢰성 Chartered 0.35µm Silicon Gate CMOS DAL 0.35µm Silicon Gate CMOS DAL 0.35µm "D" Silicon Gate CMOS DAL 0.6µm Silicon Gate CMOS DAL 0.8µm Silicon Gate CMOS DAL B8 Silicon Gate CMOS MFN Dual Poly 0.8µm CMOS MFN Dual Poly NPN Bipolar MFN 1.2µm Silicon Gate CMOS MFN 1.2µm High Voltage BiCMOS MFN 3µm Silicon Gate CMOS MFN 5µm Silicon Gate CMOS MFN 80V Bipolar CMOS DMOS MFN Poly Emitter Complementary Bipolar MFN SiGe HBT CMOS MFN Standard Metal Gate CMOS SAT 0.4µm Silicon Gate CMOS SAT 0.8µm Silicon Gate CMOS w/memory SAT 1.2µm Silicon Gate CMOS SVL 0.4µm Silicon Gate CMOS SVL 0.6µm Silicon Gate CMOS SVL 0.8µm Silicon Gate CMOS SVL 1.2µm Silicon Gate CMOS SVL SiGe HBT 0.35µm CMOS TSMC 0.18µm Silicon Gate CMOS TSMC 0.35µm Silicon Gate CMOS TSMC 0.5µm Silicon Gate CMOS 어셈블리 신뢰성 BGA 모듈 카트리지 CSBGA CSP Dongle 플립 칩 iButton LGA LQFP 모듈 MQFP PBGA PDIP PLCC Power Cap QFN QSOP SC70 SipStik SOIC SOT SSOP TO TQFP TSOC TSSOP µSOP 제품별 공정 신뢰성 보고서 목차 참조 (PDF, 507kB)