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고주파 ASIC
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시험 및 측정 ASIC
20여 년 이상 Maxim의 바이폴라 및 BiCMOS 공정은 정밀하고 복잡한 고주파 테스트 및 측정 애플리케이션에 적합한 다양한 성능을 제공해 오고 있습니다. 제공되는 공정으로는 초고속 NPN, 컴플리멘터리 고속 바이폴라, 고속 바이폴라 + CMOS 등이 있습니다. 각 공정은 특정 마켓의 요구사항에 맞게 조정이 가능합니다.
고도로 안정적인 Maxim의 박막 니크롬 (nichrome) 저항은 위의 모든 공정을 이용할 수 있습니다. 이러한 기술에 Maxim의 니크롬 레이저 트림 성능을 결합하면 이득, 오프셋, 인터페이스 임피던스, 채널 간 (channel-to-channel) 정합에 대한 정밀한 제어를 비롯해 그 밖의 다양한 고정밀 조정 기능을 제공할 수 있습니다.
애플리케이션
- 고속 자동화 테스트 시스템
- 스펙트럼 분석기
- 파형 발생기 및 분석기
- 프로그래밍 가능 광대역 선형 앰프
- 데이터 컨버터 및 인코더/디코더
통합에 적합한 블록:
오실로스코프 또는 파형 레코더
Maxim CB-2 컴플리멘터리 바이폴라 공정을 이용하는 ATE 애플리케이션을 위한 PE (Pin Eelctronics) ASIC
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