Scan Design에 대한 전기 엔지니어링 용어 정의

정의

회로의 내부 레지스터 또는 플립 플롭을 체인 방식으로 연결하는 설계 기법으로, 외부 회로에서 이들 정보를 쉽게 읽고 쓸 수 있게 해준다.

회로의 외부 핀에서 내부 메모리 소자에 직접 액세스할 수 없는 경우 내부 메모리 소자의 상태를 알 수 없으므로 테스팅이 어렵다. 스캔 설계를 사용하면 신호가 소자를 "스캔 체인(scan chain)" 방식으로 재구성하여 소자의 정보를 읽을 수 있으며 원할 경우 변경도 가능하다.

동의어

• scan chain

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