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테스트 시스템 개발
테스트 시스템 개발 그룹은 Maxim의 아날로그, RF 및 혼합 신호 (mixed-signal) IC의 생산 테스트를 위한 자동 테스트 시스템 (ATE) 솔루션 설계를 전문으로 하고 있습니다. 테스트 개발 그룹은 정의(definition), 설계(design), 오류 수정(hands-on debug), 특성화(characterization), 양산 이관(manufacturing release)에 이르는 제품 개발의 모든 과정에 참여하고 있습니다. 첨단 ATE 시스템에 인터페이스되는 하드웨어 및 소프트웨어 인터페이스 설계는 제조 단계로 들어가 대량 생산으로 들어가는 IC에 대한 웨이퍼 소트(wafer sort), 레이저 트림(laser trim), 최종 테스트(final test)를 가능하게 해줍니다.
테스트 시스템 개발 그룹은 전 사업부를 지원하는 Maxim의 핵심 부서입니다. Boston 센터 테스트 그룹의 목표는 InfoComm 및 HSSP 사업부의 IC 설계 그룹과 긴밀히 협력하여 고성능의 경제적인 테스트 솔루션을 설계하는 데 있습니다.
신제품과 테스트 기술의 발전에 대한 도전은 기술 습득과 경력 개발에 흥미진진한 바탕을 제공합니다.
Boston 디자인 센터
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