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애플리케이션 노트  3290

HFAN-04.5.3: 4Gbps 850nm FC 수신기 시험을 위한 오손된 신호원

개요: 광 전송 링크가 오류 없이 동작하려면 링크의 개별 부품이 중요한 성능 파라미터를 충족해야 한다. 다양한 벤더들이 다양한 링크 부품을 제공한다는 점을 감안할 때, 최악의 경우 조건에서 이 모든 부품들의 상호 연동성은 중요하다. 광 채널 표준은 다양한 벤더들의 부품 상호 연동성을 보장하고 최악의 경우 조건에 대비한 링크 내 마진을 제공하기 위해 규격 및 시험 방식을 정의하였다. 링크 내 각 부품(serdes, 송신기, 파이버, 수신기, PWB 등)을 위해 지터 규격이 할당되었다. 중요한 수신기 시험 파라미터에서 오손된 신호에 대한 수신기 감도가 종종 간과된다. 오손된 신호 시험(stressed testing)은 아이 클로저(eye closure, 간 간섭 또는 ISI 라고도 함)의 예상되는 최악의 경우 조건에서 수신기 성능을 평가하는 데 사용된다. 본 애플리케이션 노트에서는 Maxim MAX3748 평가 보드, 바이어스 티, 베셀 톰슨 (Bessel Thompson: BT) 필터 및 4Gbps 850nm VCSEL을 사용한 오손된 신호 시험 신호원 창출을 중점적으로 다룬다 .

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추가 정보  APP 3290: Jun 09, 2005
MAX3746 저전력, 622Mbps ~ 3.2Gbps 리미팅 앰프 전체 데이터 시트
(PDF, 332kB)
MAX3748 초소형의 155Mbps ~ 3.2Gbps 리미팅 앰프 전체 데이터 시트
(PDF, 372kB)
 

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