개요: 광 전송 링크가 오류 없이 (여유를 두고) 동작하려면 링크의 개별 부품이 중요한 성능 파라미터를 충족해야 한다. 다양한 벤더들이 다양한 링크 부품을 제공한다는 점을 감안할 때, 최악의 경우 조건에서 이 모든 부품들의 상호 연동성은 중요하다. 광 채널 표준은 다양한 벤더들의 부품의 상호 연동성을 보장하고 최악의 경우 조건에 대비한 링크 내 마진을 제공하기 위해 규격 및 시험 방식을 정의하였다. 링크 내 각 부품 (serdes, 송신기, 파이버, 수신기, PWB 등)을 위해 지터 규격이 할당되었다. 중요한 수신기 시험 파라미터에서 오손된 신호에 대한 수신기 감도가 종종 간과된다. 오손된 신호 시험(stressed testing)은 아이 클로저(eye closure) (기호간 간섭 또는 ISI 라고도 함)의 예상되는 최악의 경우 조건에서 수신기 성능을 평가하는 데 사용된다. 본 애플리케이션 노트에서는 Maxim MAX3748 평가 보드, 바이어스 티, 베셀 톰슨 (Bessel Thompson: BT) 필터 및 4Gbps 850nm VCSEL을 사용한 오손된 신호 시험 신호원 창출을 중점적으로 다룬다.